ELEMENT GD Plus™


ELEMENT GD plusELEMENT GD Plus – масс-спектрометр высокого разрешения с ионизацией в источнике тлеющего разряда для прямого анализа проводящего твердого материала и полупроводников с минимальными затратами времени на пробоподготовку.

Этот прибор позволяет одновременно количественно измерять элементы матрицы и примеси на сверхследовом уровне, обладая линейным динамическим диапазоном свыше 12 порядков.

 

 

 

 


Аналитические характеристики

Диапазон масс от 2 до 260 а.е.м
Разрешение 300, 4000 и 10000 (на 10%)
Чувствительность > 1 х 1010 имп/с (1,6 х 10-9 А), по высоте пиков 63Cu & 65Cu в режиме MR (R= 4000)
Темновой шум < 0,5 имп/с
Стабильность масс 25 ppm/8 часов
Скорость сканирования Магнит: < 150 мс в скане

m/z 7–238–7

ESA: 1 мс/скан, независимо от массы

Динамический диапазон линейный > 1012 с автоматической кросс-калибровкой
Время переключения разрешения менее 1 с
Изотопическая чувствительность < 10 ppb ( по критерию m-1/m для меди в режиме MR)
Минимальное время интегрирования — ионный счет – 0,1 мс

— аналоговый счет и детектор Фарадея – 1 мс

Источник тлеющего разряда Рабочее напряжение: до 1400 В (типично 400–1200 В)

Ток: регулируемый до 200 мА (типично 40–50 мА)

Импульсный режим разряда:

напряжение — 1000 В; частота -4 кГц; длительность импульса 40 мкс; ток 5–10 мА

Поток газа в разряде типично 300–500 мл/мин

Функциональные характеристики

Пельтье-охлаждаемая поверхность катода источника GD, позволяющая поддерживать стабильный разряд и, как следствие, получать аналитические результаты с высокой точностью и воспроизводимостью

Новейшее программное обеспечение для полного компьютерного контроля параметров всех систем и управления работой прибора, проведения анализов, сохранения и обработки полученных результатов

Детектор с линейным динамическим диапазоном 12 порядков с автоматической функцией калибровки различных режимов измерений для одновременного измерения как матричных (%), так и следовых (на уровне долей ppb) элементов

Ионная оптика обратной геометрии Нира-Джонсона с двойной фокусировкой

Термостабилизированный магнит с быстрой разверткой

Быстросъемная конструкция линзы экстрактора (plug-in), позволяющая за минимальное время выполнять смену линзы для анализа образцов с различными матрицами

Быстросъемная самоюстирующаяся конструкция скиммер-конуса на магнитном держателе

Простая и быстрая смена образцов, позволяющая менее чем за пять минут получать результаты анализа до 50-ти элементов на уровне ppb

Профилирование по глубине образца: возможность получения результатов анализа профиля образца по глубине с разрешением единиц нанометра

Автоматическое согласование параметров разряда полностью контролирующее равномерность отбора пробы

Типичные применения

  • Авиация и космонавтика (алюминий, нержавеющая сталь, сплавы титана)
  • Медицина и фармакология
  • Пищевая промышленность (нержавеющая сталь, сплавы титана)
  • Ядерная промышленность (уран, ядерное топливо)
  • Цветная и черная металлургия
  • Чистые и сверхчистые материалы (разработка и производство)
  • Микроэлектроника (медь, алюминий)
  • Кремниевые элементы для солнечных батарей